針規(guī)又稱銷式塞規(guī)，主要用于測量孔的尺寸、孔的距離、孔深、可做通止規(guī)使用.針規(guī)有公制針規(guī)、英制針規(guī)等。針規(guī)是孔的標準化檢測必備工具，并廣范用于電子板、線路板、模具、精密機械制造等各種高精尖技術領域。
針規(guī)的技術參數(shù):粗糙度≤0.20um；熱處理HRC60～63；材料:GCr15,9SiCr,鎢鋼等多種材質(zhì)。我廠可以定做各種非標準針規(guī)。
針規(guī)的檢測方法可以在高精度的測長儀上進行直接測量，或在接觸式干涉儀上進行比較測量，也可以用立式光學計或臥式光學計進行直接測量或比較測量 。
1)對于標稱尺寸小于 lmm，最大允許誤差小于±1,um的針規(guī)，檢測直徑時，最好用高精度的測長儀進行直接測量。因為在接觸式干涉儀上用比較法 進行檢測時 ，要將量塊和針規(guī)研合在一起 ，而針規(guī)太細 ，不太容易和量塊研合 ，如果是帶柄 的針規(guī) ，就更不容易和量塊研合了。
2)對于標稱尺寸在 1～10mm范圍內(nèi)，最大允許誤差大于 ±1u,m 的針規(guī)，檢測直徑時，最好用臥式光學計 ，而不用立式光學計 ，因為檢測針規(guī)的直徑至少要在三個截面上，尤其在檢測針規(guī)兩頭的截面直徑時，很容易放置不平穩(wěn)，造成讀數(shù)不可靠。而用臥式光學計，使針規(guī)豎放，容易保持平穩(wěn)。
3)對于標稱尺寸大于 10mm，最大允許誤差大于±1m 的針規(guī) ，可以用立式光學 計進行檢測。針規(guī)一般是由硬合金材料制造，有一定的自重，在檢測過程中要 比尺寸小的針規(guī)容易放置平穩(wěn)。